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Neo Cleanliness Tester는 이온 오염 시험기로도 불립니다.
표면의 이온 오염 수준을 측정하는 데 사용되는 장치입니다. 일반적으로 인쇄 회로 기판(PCB)과 같은 전자 부품 및 장치의 청결도를 테스트하여 적절한 기능을 방해할 수 있는 이온 오염이 없는지 확인하는 데 사용됩니다.
이온 오염 테스터는 표면의 전도도를 측정하여 작동하며, 이는 전류가 표면을 통해 흐를 수 있는 표면의 능력을 측정하는 것입니다. 표면의 이온 오염은 전자 부품 및 장치의 정상적인 전류 흐름을 방해할 수 있는 하전 입자 잔류물을 남겨 전도성을 증가시킬 수 있습니다. 이온 오염 테스터는 이러한 하전 입자를 감지하고 표면의 이온 오염 수준을 결정하는 데 사용할 수 있는 농도 측정값을 제공할 수 있습니다.
이온 오염 시험기가 탄생한 이래 소위 동적 또는 정적 시험 방법에 대한 논쟁이 있었습니다. 양측은 상대방보다 더 많은 혜택을 제공할 수 있다고 주장합니다. 이러한 문제를 극복하기 위해 Noetel 청정도 테스터는 둘 다 IPC 표준에 인용되어 있기 때문에 원하는 방법을 채택할 수 있는 유연성을 제공합니다. 이는 OEM 제조업체에게 특히 중요합니다. 다양한 고객이 서로 다른 분석 방법을 요구할 수 있으므로 두 가지 유형의 장비 구매 비용을 절약할 수 있습니다.
이온 오염은 전자 장치 또는 시스템의 적절한 기능을 방해할 수 있는 물체 표면의 이온(전자의 손실 또는 획득으로 인해 양전하 또는 음전하를 갖는 원자 또는 분자)의 존재입니다. 먼지, 습기 또는 오염 물질과 같은 환경의 이온이 물체의 표면과 접촉하여 하전 입자 잔류물을 남길 때 발생할 수 있습니다. 이온 오염은 정상적인 전류 흐름을 방해하거나 단락을 일으키거나 민감한 구성 요소의 적절한 작동을 방해하여 전자 및 전기 시스템에 문제를 일으킬 수 있습니다. 전자 장치 및 시스템을 깨끗하고 이온 오염이 없는 상태로 유지하여 적절한 기능을 보장하는 것이 중요합니다. 이는 세척제 및 보호 코팅의 사용과 적절한 취급 및 보관 방법을 통해 달성할 수 있습니다.
일반적으로 PCB 표면과 접촉하는 환경에 이온이 존재하기 때문입니다. 이러한 이온은 먼지, 습기 또는 공기 중의 오염 물질을 비롯한 다양한 소스를 통해 유입될 수 있으며 PCB 표면에 하전 입자 잔류물을 남길 수 있습니다.
이온 오염은 정상적인 전류 흐름을 방해하거나 단락을 일으키거나 민감한 구성 요소의 적절한 작동을 방해하여 전자 및 전기 시스템에 문제를 일으킬 수 있습니다. 전자 장치 및 시스템을 깨끗하고 이온 오염이 없는 상태로 유지하여 적절한 기능을 보장하는 것이 중요합니다. 이는 세척제 및 보호 코팅의 사용과 적절한 취급 및 보관 방법을 통해 달성할 수 있습니다.
청소의 주요 목표는 채워진 PCB에서 플럭스와 레진 잔여물을 제거하는 것입니다. 항공 우주, 자동차, 군사 및 통신 산업의 대다수 PCB 어셈블리에는 유해한 오염 물질이 없는 어셈블리가 필요합니다. 코팅, 에폭시 쉐이킹 또는 언더필. 플럭스 잔류물이 어셈블리에 남아 있으면 박리 및/또는 젖음 불량이 발생할 수 있습니다. 추가 이점으로 PCB는 세척 후 미학적으로 더욱 보기 좋게 나타납니다.
이온 오염 수준은 PCB를 세척하는 용액의 이온 전도도에서 계산됩니다. 결과는 전체 표면의 평균값입니다. 청결도 테스트는 이제 베어 보드와 실장 보드 모두에서 일상적인 절차이자 제조업체입니다. 그들은 일반적으로 프로세스를 보장하기 위해 이온 오염 테스터를 보유하도록 요청받습니다.
이 이온 오염 테스트 방법에는 수정된 ROSE 테스트와 유사한 열 추출이 포함됩니다. 열 추출 후 용액은 이온 크로마토그래프 테스터에서 다양한 표준을 사용하여 테스트됩니다. 결과는 존재하는 개별 이온 종과 제곱인치당 각 이온 종의 수준을 나타냅니다.
NaCl 당량은 동일한 전도도의 용액을 생성하는 데 필요한 염화나트륨(염)의 양 또는 농도를 나타냅니다. 시험 용액에서 발견되는 원소 나트륨 또는 염화물의 양과는 아무런 관련이 없습니다. NaCl 당량은 한 이온 테스터의 결과를 다른 이온 테스터와 비교하는 데 사용되는 요소입니다.
수정된 ROSE 테스트 방법에는 열 추출이 포함됩니다. PCB는 지정된 시간 동안 높은 온도에서 솔벤트 용액에 노출됩니다. 이 프로세스는 PCB에 존재하는 이온을 용매 용액으로 끌어들입니다. 이 솔루션은 Ionograph 스타일 테스트 장치를 사용하여 테스트됩니다. 결과는 제곱인치당 PCB에 존재하는 벌크 이온으로 보고됩니다.
IPC-TM-650 2.3.2 5: 용매 추출물의 저항률(ROSE) 테스트 방법. ROSE 테스트 방법은 이온 오염의 존재를 감지하기 위한 프로세스 제어 도구로 사용됩니다. IPC 한계는 1.56 μg/NaCl/cm.sq로 설정됩니다. 테스터는 이온 테스트 장치에 의해 구현되어야 하며 존재하는 특정 이온을 식별하지 않습니다. 이 프로세스는 PCB/PCBA에 있는 이온을 테스트 솔루션으로 끌어들입니다. 결과는 제곱 인치/cm당 PCB에 존재하는 총 이온으로 보고됩니다.
| 테스트 방법 | IPC TM-650 참조 |
| 이온 크로마토그래피 | IPC TM 650 2.3.28 |
| 재료 및 완제품 어셈블리에 대한 SIR 테스트 | IPC TM 650 2.6.3 |
| IPC TM 650 2.6.3.1 | |
| IPC TM 650 2.6.3.2 | |
| IPC TM 650 2.6.3.3 | |
| 일렉트로마이그레이션 테스트 | IPC TM 650 2.6.14 |
| IPC TM 650 2.6.14.1 |
| Bellcore SIR 테스트 | GR 78 13.1장 |
| Bellcore 일렉트로마이그레이션 테스트 | GR 78 13.1장 |
| Bellcore Fabricator 경 | Bellcore 장 14.4 |
| BIC(로즈 테스트) | IPC TM 650 2.3.25 |
| BIC(수정된 ROSE 테스트) | IPC TM 650 2.3.25.1 |
NCT 용량: 500x500mm
NCT PLUS 용량: 700x700mm
테스트 방법:정적/동적
해상도:0.001ug Nacl/cm.sq
히터:옵션
